Специалисты Томского государственного университета (ТГУ) создали нейросеть, которая диагностирует дефекты радиоэлектронной аппаратуры. Она анализирует 3D-снимки микросхем, печатных плат и других компонентов, выявляя малейшие повреждения. Об этом сообщает ТАСС со ссылкой на пресс-службу вуза. Разработка опередила мировые аналоги по точности и скорости работы.
Для обучения использовали 1 500 эталонных и 10 000 дефектных изображений. Дополнительно применяли цифровые модели электронных компонентов, что повысило точность диагностики. Теперь ИИ способен анализировать элементы разной формы, размера и цветности.
Тестирование показало, что российская нейросеть работает точнее и быстрее аналогов из США, Китая и Тайваня. Программное обеспечение обладает высокой помехоустойчивостью и способно работать в сложных производственных условиях.
Технология уже применяется для контроля качества на предприятиях. Ее можно адаптировать для нужд военной и гражданской промышленности. Также ведется работа по внедрению разработки на предприятиях Роскосмоса.